Tuy nhiên, sự cố Galaxy Note 7 đang phát lộ những hiểm họa từ việc thiết kế pin trâu khiến nhiều người phải giật mình.
Smartphone ngày càng trang bị cấu hình khủng để có thể hoạt động đa nhiệm nhằm đáp ứng nhu cầu ngày càng đa dạng của người dùng. Vì thế, việc trang bị cho smartphone cục pin có thời lượng hoạt động vượt trội đã trở thành mục tiêu hàng đầu của các nhà sản xuất nhằm tạo ra lợi thế cạnh tranh trước các đối thủ.
Song, tiếc là trong khi smartphone không ngừng cải tiến từ thiết kế bên ngoài đến cấu hình bên trong, thì chỉ có pin là vẫn chưa có những bước tiến đáng kể. Thậm chí, đó còn là "nỗi ám ảnh" với người dùng khi pin cạn kiện quá nhanh và lại mất quá nhiều thời gian cho mỗi lần sạc. Chính sự lệch pha này đang gia tăng sức ép lên các nhà sản xuất. Việc cố gắng sản xuất các dòng pin siêu mỏng, siêu nhẹ, nhưng vẫn phải đạt hiệu suất cao để đáp ứng sự tiến hóa không ngừng của smartphone khiến Samsung phải trả giá khi Galaxy Note 7 gặp sự cố liên quan đến pin chỉ sau vài tuần lên kệ.
Vậy đâu là nguyên nhân dẫn đến sự cố trên?
Trong những năm gần đây, Samsung luôn tự hào giới thiệu công nghệ sạc nhanh do Qualcomm phát triển được ứng dụng vào nhiều dòng sản phẩm cao cấp của hãng, dĩ nhiên có cả Galaxy Note 7. Về nguyên lý hoạt động, công nghệ này sử dụng chip mạch vòng có cơ chế hoạt động song song với bộ sạc cụ thể để gia tăng quá trình sạc. Nhờ đó, Galaxy Note7 có khả năng sạc nhanh hơn khoảng 50 phút so với thế hệ tiền nhiệm.
Tuy nhiên, điều này lại tiềm ẩn hiểm họa khôn lường. Bởi tất cả đã được đẩy lên nhằm chống lại giới hạn vật lý của các chất hóa học và cấu trúc bên trong pin. Nhà phân tích Martin Reynolds đến từ Gartner từng cảnh báo tốc độ sạc quá nhanh sẽ dẫn đến bào mòn tuổi thọ của pin. Khi đẩy nhanh tốc độ sạc sẽ khiến tuổi thọ của pin giảm nhanh.
Kyle Wiens - nhà sáng lập iFixit, trang web nổi tiếng chuyên bóc tách các bộ phận bên trong thiết bị để tìm lỗi hoặc cách khắc phục sự cố phần cứng - cho rằng: Việc gia tăng tốc độ sạc, nhồi nhét thêm năng lượng vào cục pin đã vô tình đẩy giới hạn của pin lithium-ion lên ngưỡng nguy hiểm cũng như làm tăng thêm các nguy cơ dẫn đến sự cố ngoài mong đợi.
Như vậy, sạc nhanh là con dao hai lưỡi, chỉ cần có sơ suất nhỏ trong quá trình sản xuất pin là có thể dẫn đến nguy cơ cháy nổ. Kyle Wiens cho rằng: Điều này đã xảy ra với Galaxy Note 7. “Các lô hàng đầu tiên của Galaxy Note7 có thể đã tồn tại một số sai sót về cấu trúc pin, khiến các chất hóa học không phản ứng với nhau theo cách thông thường làm gia tăng nguy cơ cháy nổ”. Sau đó, Samsung cũng đã chính thức lên tiếng xác nhận nguyên nhân gây ra sự cố cháy nổ trên Galaxy Note 7. Theo đó, việc quá nhiệt (overheat) trong pin gây ra bởi cực dương và cực âm tiếp xúc với nhau. Vách ngăn cách hai cực không đạt chuẩn để ngăn chặn quá trình rò điện dẫn đến cháy nổ.
Còn nhớ, cách đây hai năm, Samsung SDI đã tiến hành nghiên cứu và sản xuất pin không tháo rời nhằm giảm chi phí và tránh lệ thuộc vào đối tác cũng như tăng lợi nhuận cho lĩnh vực hoạt động này. Sau 2 năm, Samsung quyết định sử dụng pin tự sản xuất cho Galaxy Note 7 thay vì sử dụng pin của đối tác dẫn đến sự cố đáng tiếc này. Sự cố Galaxy Note 7 không chỉ gây thiệt hại nặng nề cho Samsung về kinh tế cũng như những tổn hại về uy tín thương hiệu, biến Galaxy Note7 từ sản phẩm tiêu biểu của năm trở thành "kẻ tội đồ" mà còn gây phương hại nghiêm trọng đến tham vọng chia sẻ miếng bánh thị phần trên thị trường pin.
