Dưới đây là những hình ảnh ít biết về phòng thí nghiệm của Samsung, nơi hãng đã dùng để kiểm nghiệm pin Galaxy Note 7:
Cở sở kiểm nghiệm pin của Samsung ở Gumi, Hàn Quốc có quy mô tương đối lớn. Là một phòng thí nghiệm an toàn 8 điểm mới, nơi này được dùng để kiểm nghiệm pin thường xuyên hơn, bao gồm tiến hành các thí nghiệm về việc sạc quá mức, chọc thủng pin và tác động do điều kiện nhiệt độ cực điểm.
Bức ảnh trên cho thấy các cuộc thí nghiệm nhằm kiểm tra ảnh hưởng của sạc không dây đối với Galaxy Note 7.
Quá trình kiểm nghiệm sạc pin qua cổng USB-C bên trong phòng thí nghiệm của Samsung.
Ngoài các bài kiểm tra phần cứng của pin, đại gia công nghệ Hàn Quốc còn áp dụng một quy trình nghiêm ngặt nhằm xem xét vai trò của các thuật toán phần mềm.
Thêm các cuộc kiểm nghiệm thuật toán phần mềm khi Samsung tiến hành xem xét toàn diện các viên pin gặp sự cố.
Trong quá trình kiểm tra an toàn 8 điểm, một chiếc điện thoại Galaxy Note 7 phải trải qua một cuộc sát hạch về độ bền.
Một thí nghiệm xuyên thủng pin trong quá trình kiểm tra kiểm tra độ bền.
Bài kiểm tra về khả năng chịu nén khi đánh giá về độ bền của pin.
Kiểm tra một chu kỳ tuổi thọ pin là một phần trong quá trình kiểm tra an toàn 8 điểm.
Kiểm tra trực quan các viên pin nhằm phát hiện lỗi.
Một máy chụp X-quang xem xét bên trong các viên pin, tìm kiếm bất kỳ bất thường nào có thể xảy ra.
Kiểm tra TVOC nhằm đảm bảo không có nguy cơ rò rỉ thành phần pin.
Bóc tách viên pin để xem xét mọi thành phần hiện là một phần trong quá trình kiểm nghiệm an toàn pin của Samsung. Quá trình này đánh giá chất lượng tổng thể của pin, kể cả các mối hàn pin và tình trạng của băng cách điện.
Bước kiểm nghiệm OCV nhằm xem xét bất kỳ thay đổi nào về điện áp trong quá trình sản xuất, từ khâu linh kiện cho tới sản phẩm hoàn chỉnh.
