TTXVN dẫn nguồn từ Wall Street Journal hôm 20/1 cho biết: Một cuộc điều tra của "đại gia" điện tử Hàn Quốc Samsung về vụ nổ pin điện thoại thông minh dòng Galaxy Note 7 đã phát hiện ra rằng kích cỡ pin to bất thường là nguyên nhân khiến thiết bị này bị nóng quá mức.
Samsung dự kiến công bố kết quả điều tra vào ngày 23/1 tới, song một số nguồn tin đã tiết lộ với tờ Wall Street Journal điều tra cho thấy các pin bị lỗi có kích cỡ bất thường làm tăng nhiệt, trong khi số khác mắc lỗi liên quan đến khâu sản xuất.
Sự cố lỗi pin không những sẽ tiêu tốn của Samsung một khoản tiền không nhỏ mà còn giáng một đòn mạnh vào tập đoàn sản xuất điện thoại thông minh lớn nhất thế giới
Ước tính, Samsung đã thu hồi khoảng 2,5 triệu thiết thị Note 7 tại 10 thị trường và chấm dứt sản xuất dòng điện thoại này sau bê bối cháy nổ pin.
Giới phân tích nhận định việc thu hồi và ngừng sản xuất Galaxy Note 7 có thể khiến Samsung thiệt hại lên đến 17 tỷ USD.
